圖5　主程序流程圖

圖6　保護(hù)子程序流程圖

2.2  過采樣
在本產(chǎn)品設(shè)計(jì)時(shí)，便定位于既可作為保護(hù)繼電器使用，又可作為低壓電測(cè)儀表使用，因此要求本產(chǎn)品的測(cè)量精度要高，但出于成本上的考慮，采用主控芯片STM32F103R8T6內(nèi)部自帶的12位AD，為實(shí)現(xiàn)高精度的測(cè)量，需要在采樣上使用過采樣的技術(shù)。根據(jù)奈奎斯特定理可得，每增加一位分辨率，信號(hào)必須被以4倍的速率過采樣：f_os=4^w×f_s  。其中，w是希望增加的分辨率位數(shù)，f_s是初始采樣頻率要求，f_os是過采樣頻率。根據(jù)此公式，在采樣時(shí)將采樣頻率提高256倍，即將分辨率位數(shù)提高4位，達(dá)到了16位的分辨率。采用此方法后，本產(chǎn)品的測(cè)量精度達(dá)到0.5級(jí)，完全可以滿足作為測(cè)量型儀表的要求。由于CPU的速度很快，因此不會(huì)因?yàn)椴捎眠^采樣后，采樣點(diǎn)和運(yùn)算量的增加而導(dǎo)致保護(hù)速度不夠。

3　 性能測(cè)試
3.1  測(cè)量精度的測(cè)試（電流型）

圖7

　　試驗(yàn)裝置由圖7所示，信號(hào)發(fā)生源采用深圳科陸公司的RTU檢定裝置CL301V2-R，精度等級(jí)0.05。由CL301V2-R輸出三相交流電流來測(cè)試ASJ的測(cè)量精度，測(cè)試結(jié)果見表1。

表1

　　由GB/T22264.1-200《安裝式數(shù)字顯示電測(cè)量?jī)x表》第1部分：定義和通用要求中5.2 基本誤差的計(jì)算方法，結(jié)合表1測(cè)量數(shù)據(jù)可得，精度等級(jí)能夠滿足0.5級(jí)。
計(jì)算公式如下：
儀表的基本誤差不應(yīng)超過公式（1）表示的測(cè)量值的絕對(duì)誤差△。

　　式中： U_x－被測(cè)量的讀數(shù)值；
U_m－被測(cè)量的滿度值；